GE檢測控制技術即將參與2012年中國半導體展覽會Semicon China_GE檢測控制技術_Semicon

GE檢測控制技術即將參與2012年中國半導體展覽會Semicon China

2012/3/8 13:23:58

“GE檢測控制技術即將參加在上海舉辦的2012年中國半導體展覽會 Semicon China.即時會向觀眾展示GE的高性能X射線檢測系統，這是一款GE去年新推出的具有卓越的性價比的檢測系統，可簡便地用于半導體分裝封裝和線路板組裝等電子行業領域。除此之外，還會展示GE的傳感器，現場儀表以及超聲檢測系統等。歡迎蒞臨指導，GE展位號：E5館5505-5507，上海新國際展覽中心。”